掃描電子顯微鏡(SEM)如何工作?
- 電子和電磁透鏡的光源來自放置在柱頂?shù)逆u絲燈,與透射電子顯微鏡的鎢絲燈相似。
- 在將熱能施加到電子源后,電子會發(fā)射出來,并以快速運動的方式移動到陽極,陽極帶有正電荷。
- 電子束從樣品表面激活高能級的初級散射(主)電子和低能級的次級電子的發(fā)射。電子束與樣品相互作用產生信號,該信號給出有關樣品表面形貌和成分的信息。
- 樣品無需特殊處理即可在SEM下進行可視化,甚至可以直接檢查風干樣品。但是,微生物標本需要固定,脫水和干燥,以在暴露于高真空顯微鏡下時保持細胞的結構特征并防止細胞崩潰。
- 樣品被安裝并涂有薄層重金屬元素,以允許電荷在樣品表面上的空間散射,從而可以更好地產生具有較高清晰度的圖像。
- 通過在顯微鏡的薄部分上來回傾斜電子束來實現(xiàn)此顯微鏡的掃描。當電子到達標本時,表面會釋放出微小的電子aw,稱為二次電子,然后被特殊的檢測器捕獲。
- 當二次電子到達并進入探測器時,它們撞擊閃爍體(一種被帶電粒子或高能光子撞擊時發(fā)出熒光的發(fā)光材料)。這會發(fā)出閃光,然后通過光電倍增管將其轉換為電流,從而向陰極射線管發(fā)送信號。這將產生看起來像可以觀看和拍攝的電視圖像的圖像。
- 進入檢測器的二次電子的數(shù)量由樣品的性質高度定義,即凸起的表面接收大量的電子,進入檢測器,而凹陷的表面到達表面的電子更少,因此進入檢測器的電子更少。
- 因此,凸起的表面在屏幕上看起來更亮,而凹陷的表面在屏幕上看起來更暗。
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