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掃描電子顯微鏡(SEM)的應(yīng)用

它用于各種*域,包括工業(yè)用途,納米科學(xué)研究,生物醫(yī)學(xué)研究,微生物學(xué)

  1. 用于能量色散X射線(xiàn)光譜學(xué)中的點(diǎn)化學(xué)分析。
  2. 用于分析很小的化妝品成分。
  3. 用于研究微生物的細(xì)絲結(jié)構(gòu)。
  4. 用于研究工業(yè)中使用的元素的地形。

掃描電子顯微鏡(SEM)的優(yōu)勢(shì)

  • 它們易于操作并且具有用戶(hù)友好的界面。
  • 它們?cè)诟鞣N工業(yè)應(yīng)用中用于分析固體物體的表面。
  • 一些現(xiàn)代SEM能夠生成可移植的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
  • 在大約5分鐘的短時(shí)間內(nèi),很容易從SEM獲取數(shù)據(jù)。

局限性

  • 他們購(gòu)買(mǎi)非常昂貴
  • 它們體積龐大
  • 它們必須在沒(méi)有振動(dòng)和電磁元素的房間中使用
  • 必須保持一致的電壓
  • 他們應(yīng)保持接觸冷卻系統(tǒng)

掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的工作原理相結(jié)合,形成了掃描透射電子顯微鏡(STEM)。掃描透射電子顯微鏡(STEM)使用會(huì)聚電子束聚焦在樣品上的探針上,然后在其表面上掃描探針,收集信號(hào),然后將其作為點(diǎn)對(duì)點(diǎn)收集以形成圖像。