電子顯微鏡有兩種類型，具有不同的工作方式：

1. 透射電子顯微鏡（TEM）

• 透射電子顯微鏡用于觀察電子可以穿過的薄樣本，從而產(chǎn)生投影圖像。  
• TEM在許多方面類似于常規(guī)（復(fù)合）光學(xué)顯微鏡。 
• TEM尤其用于對細(xì)胞內(nèi)部（薄片）進(jìn)行成像，蛋白質(zhì)分子的結(jié)構(gòu)（與金屬陰影形成對比），病毒和細(xì)胞骨架細(xì)絲中的分子組織（通過負(fù)染色技術(shù)制備），以及蛋白質(zhì)分子在細(xì)胞膜中的排列（通過冷凍斷裂）。

2. 掃描電子顯微鏡（SEM）

• 常規(guī)掃描電子顯微鏡取決于樣品表面二次電子的發(fā)射。 
• 由于其聚焦深度大，因此掃描電子顯微鏡是立體光學(xué)顯微鏡的EM類似物。
• 它提供了TEM無法實(shí)現(xiàn)的細(xì)胞和整個生物體表面的詳細(xì)圖像。它也可以用于顆粒計數(shù)和尺寸確定以及過程控制。 
• 之所以稱為掃描電子顯微鏡，是因為圖像是通過將聚焦的電子束以光柵圖案掃描到樣品表面上而形成的。